一个通用的FT-IR采样配件

与传统的采样方法相比，HATR或水平衰减全反射附件提供了许多好处液体和固体．传统的采样技术耗时长，通常很混乱，并且由于不均匀性和混合矩阵比例变化而产生不一致性。取样盐的吸湿性使光谱更加复杂。HATR为在这种情况下产生的问题提供解决方案。

HATR的基本原理

HATR是基于完全反射的红外光束通过与样品密切接触的晶体时所发生的变化的测量。红外光束以大于临界角的角度定向于晶体表面，以便在出现之前在内部反射多次而不是透射。在每次反射时，光束穿透晶体表面0.5到5.0μ μ进入样品，由于多次反射，出射波带着与晶体接触的样品的吸收特性。

该附件易于适用于液体、薄膜和细粉末的分析。为了获得光谱再现性，晶体需要被完全覆盖。

一些可用的选项增加了技术的通用性

• 可选择ZnSe, KRS - 5, Ge, Diamond等材质的HATR板。
• 平版适用于薄膜和粉末，槽版适用于液体和浆料。
• 温度控制和流量通过晶体板实时监测反应
• 软件功能实时观察光谱，在夹紧固体样品后，应用的力量是增加的，以达到所需的最佳压力，以实现所需的光谱质量。

以上讨论的所有可选方案扩展了应用范围，允许分析范围广泛的样品，最小的样品制备包括:

• 固体粉末和薄膜
• 液体样品包括高粘性液体和泥浆
• 强吸附样品和水溶液。这是可能的，因为光束只通过一个可以忽略的路径通过样品

水样品不能使用常规技术进行分析，因为水在红外区是一种强吸收剂。