ICP-MS Interferences and their Removal

ICP-MS is a versatile and established technique for trace metal analysis for elements ranging from Li (Atomic mass 7) to Uranium (Atomic mass 250) in ppb, sub- ppb and even ppt levels. However, like any other trace metal analysis ICP-MS is also not free from interferences.

干扰类型

异交干扰

Isobaric interferences result due to presence of isotopes of same mass as the analyte element in the sample solution. Apart from elements in sample solution elements are also present as impurities in digestion acids or plasma gas and can contribute to isobaric interferences. The easiest approach is to make a correction by measuring the intensity of the interfering element from the intensity of the analyte isotope.

Polyatomic or Molecular interferences

分子干扰是由于样品或基质离子与Ar的组合和其他基质元素，例如O，N，H，C，Cl等。由于它们的小质量，诸如Li，B或不受影响的光元素。

从\（^ 3 ^ 9k \）开始这种干扰对于分子物种（例如\（^ 3 ^ 9arh）和\（^ 2 ^ 3na ^ 1 ^ 6o \）而变得显着。同位素\（^ 5 ^ 6Fe，^ 3 ^ 9k \）和\（^ 4 ^ 0ca \）都可以干扰AR，O和N同位素。对于较高的元素，特别是镧系元素，由16个原子质量单位由于金属氧化物形成而导致的元素产生的聚原子干扰。由于AR与基质组分组合的大可能性，多原子干扰通常导致定期表的第一行的问题。不同制造商提供的碰撞电池已经减少甚至完全除去这种干扰。碰撞单元位于离子光学和质量分析仪之间。反应室内的四极杆用于去除多原子干扰。在诸如氨的碰撞单元内的受控反应将目的的分析物转化为另一种物种，导致移除干扰。

双重带电离子干扰

这种干扰是由双重带电同位素的存在产生的，其具有兴趣分析物的两倍。一个示例是来自\（^ 2 ^ 0 ^ 6pb ^ + \）的干扰，\（^ 1 ^ 0 ^ 3rh \）可能处于高pb浓度。碱性和稀土元素在更大程度上形成双重带电的离子。然而，幸运的是，这种干扰在AR等离子体中并不常见。

Space Charge Effects

带正电荷的离子的光束受到相互排斥的影响。在横向运动中丢失具有较低动量的较轻元素​​比较重的元素丢失。结果，低质量元件的敏感性在较重的质量元件存在下落下。一个例子是在高浓度的铀存在下损失锂的敏感性。另一方面，高浓度的锂不会抑制铀浓浓度。通过在减少较重元素的浓度下测量较轻的元件，可以最小化这种空间电荷效应。

In general interferences in ICP-MS analysis can be overcome by :

• 样品纯化，用于去除能够产生多原子干扰的物种。
• Use of blank correction for polyatomics produced by acid,water and plasma gases.
• 利用具有适当反应气体的碰撞细胞